Oscilloscope Probes

示波器探棒是一種常見於電子工程領域的設備，用於將信號源連接到示波器。探棒是一種單輸入裝置，能夠將電信號傳送至示波器，以便進行測量與分析。示波器探棒可應用於各種測試環境，從簡單的被動探棒（如單條導線）到較為複雜的高頻測試裝置。

示波器是電子工程師最常使用的測試與測量儀器之一，能夠測量電子設備的電氣特性，而探棒則是進行測量時不可或缺的配件。

選擇示波器探棒的注意事項

• 確保探棒的輸入連接器與示波器的輸入端匹配。
• 選擇輸入電阻與電容匹配示波器規格的探棒，以確保信號傳輸的準確性。
• 最佳的匹配方式是先選擇電容範圍符合示波器規格的探棒，然後使用探棒內建的補償電容微調補償網路，以達到最佳匹配效果。

示波器探棒的類型

1. 被動探棒（Passive Probes）

最常見的示波器探棒，價格相對便宜，耐用且易於使用，主要類型包括：

• 1X 探棒：無衰減，適用於低頻應用，輸入阻抗通常與示波器相同（約 1 MΩ）。
• 10X 探棒：內建衰減電路，衰減比例為 10 倍，可測量較高電壓信號，並減少對測試電路的負載影響。
• 100X 探棒：衰減比例為 100 倍，適用於高電壓測試。
• 1000X 探棒：衰減比例為 1000 倍，通常用於極高電壓應用。

2. 衰減探棒（Attenuation Probes）

這類探棒透過內部電阻與示波器的輸入電阻形成分壓電路，可用於以下情況：

• 測量超過示波器輸入範圍的信號。
• 透過衰減電路提高阻抗並降低電容影響，適用於高頻測試應用。

3. 主動探棒（Active Probes）

內建 FET（場效應電晶體）或放大器，適用於500 MHz 以上的高速測量，或高阻抗電路測試。其主要特點為：

• 具有高頻響應能力。
• 適用於測量高阻抗信號。
• 但其輸入電壓範圍通常較低，需注意適用範圍。

4. 差分探棒（Differential Probes）

適用於測量高頻或低振幅信號，能夠測量兩個不同信號之間的電壓差，而非單端測量。常見於：

• 高速數字信號測試。
• 精密類比電路測試。

5. 電流探棒（Current Probes）

專門用於測量導體中的電流，可適用於交流與直流電流測試。

示波器探棒的使用貼士

✔ 選擇適當的探棒類型與測試應用匹配。

✔ 使用適當的探棒接頭或探棒適配器，以確保最佳測試效果。

✔ 保持接地線最短，減少噪聲影響。

示波器探棒在電子測試與診斷中扮演重要角色，選擇合適的探棒類型並遵循測試最佳實踐，可確保準確的測量結果。

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